簡要描述(shu):A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。低檢測下限可達0.08µm ,在全球同類產品中都處于先地位。大(da)量程激(ji)光粒度儀A22的推出,可以替代(dai)之前Fritsch公司所生產的緊湊(cou)型(xing)、微米型(xing)、大(da)量程微米型(xing)激(ji)光粒度儀,讓您一次(ci)使用中可以同時(shi)獲得過(guo)去三(san)臺機器的全部功效(xiao),使用更加便捷。
詳細介紹
品牌 | FRITSCH/德國飛馳 | 測量時間 | 5-10秒 |
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測量范圍 | 0.01 - 2000微米 | 分散方式 | 濕法分散 |
價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 靜態光散射 |
產地類別 | 進口 | 應用領域 | 醫療衛生,食品,生物產業,冶金,制藥 |
德(de)國Fritsch公司是(shi)實驗室樣(yang)品(pin)預處(chu)理和顆(ke)粒(li)度分析(xi)的專家。
技術參數:
主要特點:
1. 大量程激光粒度儀A22 MicroTec Plus,可替代以前的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀產品咨詢
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